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一種測量菱鎂礦中鎂元素的EDXRF新方法

2015-11-30 07:43:28 來源: 閱讀數:907

能量色散X射線熒光分析(XRF)以其分析速度快,檢測元素范圍廣,測量時間短,樣品制備簡單,可實現野外現場分析和過程控制分析等特點,在冶金機械、食品安全、材料科學、環境地質、生物醫學等諸多領域得到廣泛應用。<br>  菱鎂礦因具有較高的耐火性、黏結性等特點已被廣泛的應用于冶金、建材、造紙化工、航天航空、汽車、農牧業和輕工業、尖端科學等領域。菱鎂礦是提純、生產鎂制品的主要原材料,因此準確的測量菱鎂礦中鎂元素(Z=12)含量對菱鎂礦資源的分級、開采、提純等具有指導意義。<br>  由于輕元素(Z=11~20)熒光產額、激發效率較低,應用能量色散X射線熒光(EDXRF... 能量色散X射線熒光分析(XRF)以其分析速度快,檢測元素范圍廣,測量時間短,樣品制備簡單,可實現野外現場分析和過程控制分析等特點,在冶金機械、食品安全、材料科學、環境地質、生物醫學等諸多領域得到廣泛應用。
  菱鎂礦因具有較高的耐火性、黏結性等特點已被廣泛的應用于冶金、建材、造紙化工、航天航空、汽車、農牧業和輕工業、尖端科學等領域。菱鎂礦是提純、生產鎂制品的主要原材料,因此準確的測量菱鎂礦中鎂元素(Z=12)含量對菱鎂礦資源的分級、開采、提純等具有指導意義。
  由于輕元素(Z=11~20)熒光產額、激發效率較低,應用能量色散X射線熒光(EDXRF)分析儀不易被探測,因此改善能量色散X射線熒光分析儀對輕元素的探測效率是熒光分析領域一直關注的問題。目前,一般的解決方案主要從探頭、探測器、多道分析器、真空管路、控制平臺以及分析軟件等方面對儀器硬件進行了改進,對目標元素的分析仍采用傳統的直接測量分析方法。但是,這種提高儀器的性能的硬件改進措施,增加了設備的造價,加重了儀器制造商及使用者的經濟負擔。同時,會使儀器在使用時操作十分不便,也不易于分析儀向著便攜式、小型化方向發展。
  本文突破傳統的對目標元素直接分析的方法,另辟蹊徑,對菱鎂礦中鎂進行探測。利用化學方法對樣品進行前處理并與X熒光分析理論相結合,建立了一套將菱鎂礦中目標元素Mg轉換為對中等原子序數Ba進行測量的獨特分析方法,并取得了良好的研究結果,為今后的EDXRF的發展開辟了新思路。
  文章分別從熒光分析技術的現狀、理論基礎、分析系統、實驗條件、實驗方案等方面進行了深入的研究。利用自制的能量色散X射線熒光分析儀,對Mg與Ba之間轉換樣品制備及Ba元素的最佳測量條件進行了確定,并對測量過程進行了分析和評價。結果表明,本文設計的研究方案可準確的完成對菱鎂礦中鎂含量的分析,對菱鎂礦資源的分級、開采、提純等具有指導意義。

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